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汽车连接器复杂的失效原因的来源
1、研发设计阶段 2、生产制造阶段 3、产品质检阶段 4、商品出货阶段
• 对实际应用环境考虑不全
• 材料选用不当
• 结构设计不合理 • 重点工艺缺失
• 重点工艺参数失控 • 测试项目遗漏
• 检测精度不够
• 测试方法条件不足以支持验证结论

试验对象是一条长度为1米，二端为Nm的RG223测试电缆组件（BXT P/N：RG223-03-03-1000A），被测的Nm接头的螺套和外导体采用铜镀三元合金材料，内导体则采用镀金黄铜。试验是在以下条件下进行的：
1.试验针对其中一端的Nm接口，与一个Nf连接器进行对接，采用扳手进行连接和拆卸。为了保证精度，采用了不锈钢材料的Nf接头，一般情况下，不锈钢材料的连接器的寿命是1000次，这要比铜材高出整整一倍。
2.每插拔一次为一个循环，每100次插拔后测量一次电缆组件的插入损耗和被试验端的接口的驻波，并记录在2.2GHz频率点上的数值。试验共进行了2400次。
寿命试验结果
终测试结果见图2和图3，其中图2（a）为电缆组件在2.2GHz时插入损耗随着插拔次数的变化，图2（b）为2.2GHz时驻波随着插拔次数的变化。

电子器件分为：
1、分立器件，分为(1)双极性晶体三极管 (2)场效应晶体管 (3)可控硅 (4)半导体电阻电容；
2、主动器件（又称为有源器件），是指电路中含有放大控制元（如半导体、三极管、MOS管等）的电路器件，主动器件需要外部提供电源才能工作。
集成电路，英文为Integrated Circuit，缩写为IC；顾名思义，就是把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。
检测范围
电子元器件：电阻器、电容器、电感器、场效应晶体管、三极管、二极管、电连接器等；
集成电路：数字集成电路（小规模集成电路及大规模集成电路）、半导体集成电路等。
检测项目
环境可靠性、机械、物理和寿命试验。
相关检测标准
GJB360B 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验
GB/T 2423.11电工电子产品环境试验 *2部分 试验方法 试验Fd:宽频带随机振动--一般要求
GJB 360A 电子及电气元件试验方法
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GB/T4587半导体分立器件和集成电路 *7部分:双较型晶体管
GB/T4586半导体器件分立器件*8部分：场效应晶体管
GB/T 4023 半导体器件:分立器件和集成电路*2部分:整流二极管
GB/T2693 电子设备用固定电容器 *一部分：总规范
GB/T5729 电子设备用固定电阻器 *一部分：总规范
GJB1217A 电连接器试验方法等。
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