加速寿命试验考虑的三个要素是:环境应力、试验样本和试验时间。
因此,应尽可能使电容器在较低的温度之下工作,如果电容器的实际工作温度**过了其规格范围,不仅其寿命会缩短,而且电容器会受到严重的损毁(例如电解液泄漏)。
高温工作寿命试验 高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法,藉短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命.一般常见的寿命实验方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown),对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件,如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。
比如:MTBF中的故障数可以近似理解为Outage,系统重启属于Total Outage, 模块Crash属于Partial Outage
MTBF测试报告提升可靠性都是需要降低故障数减小downtime
在系统和应用设计中都需考虑如何减少错误,或者出现错误如何恢复。
终端上的一些后台服务可以近似理解为服务端应用,虽然不能完全照搬上文中提到容灾和恢复的场景,但是可以借鉴其中的一些思路。
终端上可以通过参考DPM的概念增加数据衡量指标,但可能不需要也不现实每个场景都执行100万次操作,可以依据实际情况调整标准要求
可以参考Failover策略中错误探测,隔离,恢复的操作在出现错误时及时发现,恢复重新启动来减少对用户造成的负面影响,恢复时间即Failover Recovery Time就成了一个关键指标