如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理,作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行(批量保证)试验条件等的依据。如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验,这就是加速寿命试验。
1.可靠性的定义在我们考虑可靠性预计之前,让我们来看看可靠性的定义。普遍被接受的可靠性的定义是产品在其*应用环境条件下和在规定时间内正常工作的概率。这就涉及到两个判断问题:1/ 怎样才算"正常工作"?2/ 什么是"*的应用条件"?如果一台汽车的收音机具有合适的AM接受功能,但不能接收FM电台,是不是整台汽车不可靠?如果某司机驾驶汽车通过积水的道路,在行进过程中汽车突然走不动,是不是说明汽车不可靠?上述两个问题的回答当然是否定的。因此,可靠性工程师在计算MTBF之前应对各种不同类型的问题进行分类。
2.通过预计计算来得到MTBF有几个个普遍被接受的标准可用来计算MTBF。大多数**规划都用版本的MIL-STD-217 FN2和GJB 299B,而许多商用产品规划则用Bellcore方法来计算MTBF。GJB 299B是中国国内自己的预计标准。每个标准都包括用于典型电子
MTBF测试计算中主要考虑的是产品中每个器件的失效率。但由于器件在不同的环境、不同的使用条件下其失效率会有很大的区别,例如,同一产品在不同的环境下,如在实验室和海洋平台上,其可靠性值肯定是不同的;又如一个额定电压为16V的电容在实际电压为25V和5V下的失效率肯定是不同的。所以,在计算可靠性指标时,必须考虑上述多种因素。所有上述这些因素,几乎无法通过人工进行计算,但借助于软件如MTBFcal软件和其庞大的参数库,我们就能够轻松的得出MTBF值
高温工作寿命试验 高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法,藉短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命.一般常见的寿命实验方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown),对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件,如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。