惠州电脑MTBF测试快捷服务价格优惠

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低温工作寿命试验 低温操作寿命试验为利用低温及电压加速的方法，评估该组件于低温环境操作下的寿命。 温度工作寿命检测能力 GJB899-2009

MTBF试验步骤：1.了解委托方的用途，比如MTBF的寿命时间预估达到多少小时2.确定测试标准和试验要求：一般是参照G80.7-1986标准3.确实试验应力和方法：施加电应力和温度应力、输入信号、过程检查、4.确定失效判据：确定如何才算是失效，5.确实试验方案：方案的选择直接影响结果，需确认好样品数量和试验时间6.进行实验：由我们的技术进行实验7.编制报告：根据测试结果来编制报告，用相关公式来判定是否能达到MTBF时间第三方检测MTBF寿命测试优势： 实验室通过了国家认监委和国际IEC协会和TUV、BV、ITS、SGS等众多机构的认可，完全按照国际标准ISO/IEC17025：2005《检测和校准实验室能力的通用要求》管理和运行，具备向社会出具公正性检测报告的。已具有完善的电子电器可靠性实验室，汽车电子实验室、失效分析实验室、**无机材料实验室、食品纺织实验室。实验室斥巨资引进了的设备，确保测试数据的真实性。

寿命试验（MTBF）方法分为定时截尾试验，定数截尾试验，估算方法为：平均寿命的点估计值、单侧置信下限估计、双侧区间估计。

高温工作寿命试验 高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法,藉短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命.一般常见的寿命实验方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown)，对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。
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